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使用R系列智能數(shù)據(jù)采集進(jìn)行比特錯(cuò)誤率測(cè)試
  • 企業(yè):美國(guó)國(guó)家儀器(NI)有限公司     領(lǐng)域:運(yùn)動(dòng)控制與伺服系統(tǒng)     行業(yè):港口    
  • 點(diǎn)擊數(shù):1513     發(fā)布時(shí)間:2009-06-15 15:32:28
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Harris RF Communications Division開(kāi)發(fā)了上述控制面板,該面板所屬的比特誤碼率測(cè)試系統(tǒng)使成本降低了4 倍之多

  The Challenge:

  更換傳統(tǒng)的箱式儀器以便支持新型產(chǎn)品和現(xiàn)有產(chǎn)品的測(cè)試。

  The Solution:

  使用NI LabVIEW FPGA和R系列智能數(shù)據(jù)采集,開(kāi)發(fā)更為靈活的系統(tǒng)對(duì)實(shí)際文件傳輸進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)將單位成本減少到1 /4。

  "我們的新系統(tǒng)將單位成本降低了4倍,并且提供了對(duì)需要增加測(cè)試需求的通信接口的定制能力。"

  Harris是一家國(guó)際的通信與信息技術(shù)公司。我們需要對(duì)傳統(tǒng)的箱式儀器進(jìn)行更換,以便對(duì)新型和現(xiàn)有產(chǎn)品的測(cè)試提供支持。我們測(cè)試的射頻產(chǎn)品主要是數(shù)據(jù)發(fā)送器和數(shù)據(jù)接收器,其中有三個(gè)不同的串行接口必須進(jìn)行驗(yàn)證。由于老系統(tǒng)支持有限的通信類型,因此我們需要找出一種靈活、可擴(kuò)展的現(xiàn)成解決方案。

  比特錯(cuò)誤率(BER)測(cè)試系統(tǒng)

  使用NI PXI-7833R FPGA 模塊以及在自定義電路板上的廣域網(wǎng)(WAN)收發(fā)器芯片,我們實(shí)現(xiàn)了完整的串行比特錯(cuò)誤率(BER)測(cè)試系統(tǒng)。需要檢驗(yàn)的物理接口是RS232、RS422 和RS485,后兩者是用于高達(dá)1.6 Mb/s 高速應(yīng)用的平衡接口。原系統(tǒng)僅支持8位同步和異步通信接口類型,而且成本相對(duì)較高。

  連接到R系列PXI-7833R模塊的接口是定制的印刷電路板,它使用的是用于不同物理層串行接口的Sipex SP514 WAN 接口IC。該電路板還包含了一個(gè)溫度補(bǔ)償晶振(TCXO)和一個(gè)直接數(shù)字合成(DDS)電路,用于生成PXI-7833R 同步數(shù)據(jù)的高速時(shí)鐘。1ppm精度的 TCXO可以用作被測(cè)單元的高可靠性時(shí)鐘源,也可將來(lái)用于振動(dòng)測(cè)試和分析。數(shù)據(jù)接口界面是基于DB-25端口的EIA-530通信標(biāo)準(zhǔn)。為了提高在高速狀態(tài)下的信號(hào)完整性,所有的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)線我們都使用了同軸電纜。

  目標(biāo)機(jī)上的NI LabVIEW FPGA VI 包含了典型BER 測(cè)試系統(tǒng)的所有功能。該VI接受所有的用戶輸入來(lái)配置定時(shí)、物理接口、塊大小、握手信號(hào)以及同步數(shù)據(jù)塊尺寸。我們還可以選擇在系統(tǒng)測(cè)試中插入一個(gè)位錯(cuò)誤。位錯(cuò)誤函數(shù)隨機(jī)地翻轉(zhuǎn)發(fā)送數(shù)據(jù)模式中的一位,對(duì)發(fā)送數(shù)據(jù)進(jìn)行修改。這些功能還可以直接在主機(jī)VI 上使用,主機(jī)VI提供實(shí)際模式數(shù)據(jù)并完成接收數(shù)據(jù)字節(jié)后的測(cè)試分析:報(bào)告BER、比特錯(cuò)誤、丟失比特以及同步。

  系統(tǒng)同步

  為了在系統(tǒng)中進(jìn)行多次同步,BER測(cè)試器連續(xù)地發(fā)送用戶制定大小的同步數(shù)據(jù),通常這些數(shù)據(jù)大小小于255 字節(jié)。FPGA 代碼檢查并比較同步字節(jié)以及停止位,來(lái)告知用戶或程序同步是否有效。(這也通過(guò)對(duì)模式傳送中的每個(gè)特定字節(jié)的比較來(lái)驗(yàn)證。)如果失敗且有重要比特錯(cuò)誤,就會(huì)生成一個(gè)文件供用戶比較BER 測(cè)試器發(fā)送和接受的數(shù)據(jù)。如果沒(méi)有檢測(cè)到同步信號(hào),但是同步位仍然是可用的,對(duì)象代碼就會(huì)使用時(shí)鐘移位的方法,設(shè)法將接受到的輸入數(shù)據(jù)和同步數(shù)據(jù)數(shù)值對(duì)齊。如果在同步數(shù)據(jù)塊中沒(méi)有實(shí)現(xiàn)同步,測(cè)試系統(tǒng)會(huì)在發(fā)送報(bào)告“無(wú)同步”,并且開(kāi)始重新測(cè)試。

  基本上,每個(gè)測(cè)試通常包含兩個(gè)Harris產(chǎn)品:一個(gè)作為數(shù)據(jù)發(fā)送器,另一個(gè)作為數(shù)據(jù)接收器,并且具有合適的連接到BER 測(cè)試器的物理接口。系統(tǒng)通常通過(guò)幾英尺長(zhǎng)的50 Ω 電纜以及射頻衰減器進(jìn)行連接,從而確保高靈敏度及通信產(chǎn)品之間的高信噪比。

  預(yù)制的隨機(jī)或偽隨機(jī)數(shù)據(jù)模式以給定的波特率傳送到被測(cè)發(fā)送器系統(tǒng)中;新型的BER 測(cè)試器可以以1.6 Mb/s 的速率進(jìn)行測(cè)試。信息由發(fā)送系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)制,并以一定的載波頻率通過(guò)射頻進(jìn)行發(fā)送。接收系統(tǒng)接收射頻信號(hào)并解調(diào),再將它重新傳回BER 測(cè)試系統(tǒng)。

  此時(shí),BER測(cè)試系統(tǒng)算法確定性地比較接收到的數(shù)據(jù)與發(fā)送的數(shù)據(jù),并報(bào)告錯(cuò)誤字節(jié)的數(shù)量。發(fā)送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在目標(biāo)對(duì)象內(nèi)存中,之后由主機(jī)VI 應(yīng)用程序進(jìn)行讀取,并報(bào)告模式位錯(cuò)誤,對(duì)模式BER 進(jìn)行計(jì)算。BER 測(cè)試應(yīng)用算法還報(bào)告丟失位以及同步時(shí)間。

  高速串行數(shù)據(jù)處理

  為了達(dá)到1.6 Mb/s的高速串行數(shù)據(jù)處理速度,應(yīng)用程序需要編譯、運(yùn)行時(shí)鐘速度在80MHz 的FPGA。我們需要將數(shù)據(jù)以20 nS 的數(shù)據(jù)分辨率進(jìn)行處理,而在新系統(tǒng)中,我們可以確保目標(biāo)對(duì)象數(shù)據(jù)處理時(shí)間為12.5 nS/位。這對(duì)于相對(duì)較慢的內(nèi)部?jī)?nèi)存操作和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)比較而言是十分關(guān)鍵的。我們以80 MHz 的頻率,在多個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中反復(fù)優(yōu)化編譯了目標(biāo)對(duì)象VI。

  我們使用直接模式內(nèi)存比較實(shí)現(xiàn)了LabVIEW FPGA 定制內(nèi)存塊之間的確定性數(shù)據(jù)比較。內(nèi)存塊對(duì)于提高負(fù)載數(shù)據(jù)傳輸和比較而言是必要的;否則,只有很小的數(shù)據(jù)塊能夠進(jìn)行傳輸。現(xiàn)在,用戶可以在下拉菜單中選擇使用高達(dá)30 Kb 的數(shù)據(jù)模式。

  從主機(jī)VI 調(diào)用目標(biāo)對(duì)象軟件是支持完整ATE 產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵整合步驟。我們目前的測(cè)試軟件架構(gòu)使用LabVIEW以及NI TestStand。

  測(cè)試單元能夠使用回環(huán)電纜連接輸入輸出的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)來(lái)執(zhí)行自檢,還可以使用SPDT 開(kāi)關(guān)仿真調(diào)制解調(diào)器的握手信號(hào),驗(yàn)證測(cè)試步驟。測(cè)試結(jié)果必須是零丟失,也就是完全同步,0 比特丟失、0 比特錯(cuò)誤。

  在我們?cè)O(shè)法找出支持PXI測(cè)試平臺(tái)的現(xiàn)成解決方案時(shí)遇到的問(wèn)題之一是找出能夠進(jìn)行定制,以便與產(chǎn)品通信界面與測(cè)試一起工作的選擇。我們找到的第一個(gè)儀器選擇無(wú)法滿足我們產(chǎn)品基礎(chǔ)的接口要求。有了LabVIEW FPGA 測(cè)試選擇,我們可以對(duì)多個(gè)串行通信的物理層進(jìn)行測(cè)試,而無(wú)需大范圍連接板卡。新型儀器還提供了許多附加的靈活性,可以測(cè)試實(shí)時(shí)文件傳輸以及可能在系統(tǒng)之間連載的圖像。它也是一個(gè)基于PXI 的解決方案。

  結(jié)論

  新型系統(tǒng)將單位成本降低了約4 倍,并且提供了需要增加測(cè)試需求的通信接口的定制能力。

  我們現(xiàn)在利用兩個(gè)PXI-7833R可重新配置FPGA模塊,對(duì)超高速系統(tǒng)(超過(guò)2 Mb/s)進(jìn)行研究。

 

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