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    隨著技術(shù)的發(fā)展，系統(tǒng)復(fù)雜程度的增加，用戶測(cè)試與診斷維護(hù)的外部測(cè)試設(shè)備（ETE）逐漸由簡(jiǎn)單的手工測(cè)試發(fā)展到高水平的自動(dòng)化測(cè)試，但是外部測(cè)試不能滿足實(shí)時(shí)監(jiān)控與診斷的要求，因而產(chǎn)生了機(jī)內(nèi)測(cè)試（BIT）。根據(jù)摩爾定律，系統(tǒng)的基本組成單元——芯片的復(fù)雜度也越來(lái)越高，為了解決IC昂貴的端口代價(jià)和緊湊封裝帶來(lái)的觀測(cè)難題，邊界掃描測(cè)試技術(shù)以及針對(duì)CMOS電路的Iddq測(cè)試也逐漸成為有效提高芯片可測(cè)試性的重要手段。

　　1、機(jī)內(nèi)測(cè)試方法（BIT-Build Ln Test）

　　所謂機(jī)內(nèi)測(cè)試指任務(wù)系統(tǒng)或設(shè)備本身為故障檢測(cè)、隔離或診斷提供的診斷測(cè)試能力，即在系統(tǒng)內(nèi)部設(shè)計(jì)專門(mén)的硬件和軟件或者利用部分功能杰檢測(cè)和隔離故障、監(jiān)測(cè)系統(tǒng)本身善，使其自身能檢查是否在正常工作或確定何處發(fā)生了故障。機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)是對(duì)被測(cè)對(duì)象實(shí)現(xiàn)可靠故障診斷的主要技術(shù)途徑。將機(jī)蛤測(cè)試技術(shù)和人工智能專家系統(tǒng)結(jié)合在一起，構(gòu)成智能BIT獎(jiǎng)在很大程度上解決測(cè)試過(guò)程中的故障診斷問(wèn)題，如測(cè)試設(shè)備的二義性、測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)、虛報(bào)警、故障不可復(fù)現(xiàn)、出現(xiàn)故障后重測(cè)正常等。機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)計(jì)為系統(tǒng)提供良好的可測(cè)性，機(jī)內(nèi)測(cè)試與故障診斷技術(shù)可以為系統(tǒng)提供良好的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，提高故障檢測(cè)率和故障隔離率，減少虛警率，縮短診斷時(shí)間。按照BIT的工作方式和時(shí)希不同，常見(jiàn)的BIT分為：連續(xù)BIT、周期BIT、啟動(dòng)BIT、上電BIT、主動(dòng)BIT、被動(dòng)BIT、分布式BIT、集中式BIT等。目前，對(duì)BIT技術(shù)的研究主要集中在系統(tǒng)級(jí)BIT融合診斷與隔離技術(shù)、系統(tǒng)虛警分析與降虛警技術(shù)等幾個(gè)方面。

　　系統(tǒng)級(jí)BIT融合診斷與隔離技術(shù)　復(fù)雜裝備一般由數(shù)字LRU、模擬LRU、機(jī)電LRU以及非電子LRU構(gòu)成，其系統(tǒng)級(jí)BIT需要綜合來(lái)自各LRU的各種測(cè)試與診斷信息，確定系統(tǒng)的功能狀態(tài)，并將故障準(zhǔn)確定位到相應(yīng)的LRU。系統(tǒng)級(jí)BIT的特點(diǎn)對(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的故障診斷與隔離帶來(lái)了較大的困難，怎樣充分而恰當(dāng)?shù)乩酶鞣NLRU信息成為系統(tǒng)級(jí)BIT的關(guān)鍵問(wèn)題。

　　BIT系統(tǒng)虛警分析與降虛警技術(shù)　虛警問(wèn)題一直是困擾BIT的主要問(wèn)題之一，也是國(guó)際上的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證難題。研究表明，環(huán)境因素是導(dǎo)致BIT虛警的一個(gè)非常重要的原因，也是較難解決的一個(gè)問(wèn)題。為解決虛警問(wèn)題，國(guó)內(nèi)外提出了若干技術(shù)途徑，如從測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、診斷與決策四個(gè)方面分別采取降低虛警的策略、從BIT系統(tǒng)的信息獲取、信息處理、診斷決策等層次分別降低虛警等。

　　2、邊界掃描測(cè)試方法

　　邊界掃描技術(shù)是美國(guó)JTAG為解決VLSI等新型電子器件的測(cè)試問(wèn)題，提出一種先進(jìn)的測(cè)試和測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)，較完善地解決了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的同時(shí)選取合適的測(cè)試和測(cè)試性設(shè)計(jì)問(wèn)題。使用JTAG進(jìn)行測(cè)試時(shí)，設(shè)計(jì)人員使用邊界掃描測(cè)試規(guī)范測(cè)試引腳步連接時(shí)，再也不必使用物理探針掃描測(cè)試是可測(cè)試性設(shè)計(jì)中普遍采用的一種方法，它典型的應(yīng)用方式有四種：器件功能測(cè)試、互聯(lián)測(cè)試、邊界掃描鏈的完備性測(cè)試、器件存在性測(cè)試。從1990年開(kāi)始，IEEE采納JTAG建議，形成了一系列邊界掃描技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。IEEE組織和JTAG組織于1990年共同推出了IEEE 1149.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)，隨后又推出了模擬及數(shù)模混合信號(hào)電路的國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.4，模塊級(jí)測(cè)試與維護(hù)總線國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.5，高級(jí)數(shù)字化網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.6和基于內(nèi)嵌芯核的系統(tǒng)芯片（SOC）的國(guó)際測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)IEEE P1500。這些標(biāo)準(zhǔn)的推出為可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)應(yīng)用發(fā)展起到了關(guān)鍵的推動(dòng)作用。

　　3、Iddq測(cè)試

　　Iddq測(cè)試的原理是無(wú)故障CMOS電路在靜態(tài)條件下漏電流非常小，而故障條件下漏電流變得非常大，可以設(shè)定一個(gè)閾值作為電路有無(wú)故障的判據(jù)。當(dāng)Iddq被納入芯片系統(tǒng)的測(cè)試中時(shí)，它立即受到IC制造商和學(xué)者們的青睞，它的優(yōu)點(diǎn)在于低廉有效，可以作為功能測(cè)試和基于固定故障測(cè)試方法的補(bǔ)充，它相對(duì)于基于電壓測(cè)試的方法來(lái)說(shuō)代價(jià)是非常小。另一方面它可觀察性強(qiáng)，因?yàn)樗恍枰收系膫鬏敚梢灾苯油ㄟ^(guò)電源電流觀察。Iddq的缺點(diǎn)是隨著特征尺寸的縮小，每個(gè)晶體管亞閾值漏電流的增加，電路設(shè)計(jì)中門(mén)數(shù)的增加，電路總的泄漏電流也在增加，這樣分辨間距會(huì)大大縮小，當(dāng)出再重疊時(shí)就很難進(jìn)行有效的故障檢測(cè)和隔離。但盡管如此，由于Iddq實(shí)現(xiàn)的簡(jiǎn)易性非常突出，所以仍然是目前可測(cè)性和系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)的研究熱點(diǎn)。

　　北京航天測(cè)控技術(shù)開(kāi)發(fā)公司以通用測(cè)控產(chǎn)品為主，主要有六大類：基礎(chǔ)測(cè)試測(cè)量?jī)x器，包括16大類230余種的VXI/PXI/LXI/CPCI/CAN/GPIB總線系列化儀器模塊及信號(hào)調(diào)理模塊；軟件及信息化產(chǎn)品，包括虛擬儀器測(cè)試開(kāi)發(fā)環(huán)境和遠(yuǎn)程分布式測(cè)試與故障診斷系統(tǒng)；通用測(cè)試系統(tǒng)，包括“廣靈通”通用測(cè)試平臺(tái)及其系列產(chǎn)品；測(cè)試與維修保障系統(tǒng)，包括“華佗”電子設(shè)備電路板維修測(cè)試與診斷系統(tǒng)及其系列產(chǎn)品和裝備維修測(cè)試與診斷系統(tǒng)；自動(dòng)化控制系統(tǒng)，包括遙測(cè)遙控及工業(yè)自動(dòng)化等系統(tǒng)產(chǎn)品；測(cè)試系統(tǒng)輔助配套產(chǎn)品。同時(shí)公司還可以根據(jù)用戶的具體需求，提供ATE/ATS、DCS/FCS的系統(tǒng)集成、方案設(shè)計(jì)、技術(shù)咨詢、軟件開(kāi)發(fā)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以及遠(yuǎn)程信息化測(cè)試、測(cè)試/診斷程序開(kāi)發(fā)及技術(shù)培訓(xùn)與維護(hù)等服務(wù)。