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本文只要介紹能量色散型X射線熒光分析儀 SEA6000VX產品的功能與特點。

精工電子納米科技有限公司開發(fā)生產可在短時間內對微小區(qū)域中微量有害金屬進行高靈敏度測量的能量色散型X射線熒光分析儀[SEA6000VX]于近期全新上市。 

　　X射線熒光分析儀，因其便捷的操作性和分析的快速性，在對應RoHS指令等環(huán)境管制中被大量導入到零件及產品的入庫出貨檢查中。除了RoHS指令以外，隨著ELV指令、玩具規(guī)范以及RPF*1等等的無鉛化、無鹵化標準的建立，可以預見對于測量環(huán)境管制物質的需求將會日益增加。但是，為了進一步提高測量的效率，并對應復雜的測量需求，現有機型已經很難對應線路板等復合部件中無法拆解的特定微小區(qū)域的測量，以及線路板整體有害物質的管理等的需求，因此開發(fā)了這款能夠滿足這些需要的最新機型。
　　[SEA6000VX]大幅提升了靈敏度，實現了對微小區(qū)域的高速測量。由于配備了本公司自行研發(fā)設計的無需液氮高計數率檢測器Vortex及全新設計的X射線源，更是得到了比以往機型高出10倍以上的靈敏度。對于原先在5mm～10mm左右比較大的分析范圍內進行的微量有害物質測量，現在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小區(qū)域內也能以相同或者更短的時間進行測量。
　　通過提高測量微小區(qū)域的靈敏度以及搭載高速電動平臺，實現高速二維掃描。例如，對100mm x 100mm的實裝線路板的高速掃描中，僅需2分鐘左右就能檢測出其中亞毫米大小的共晶焊錫。如果增加掃描的次數，大約花30分鐘左右的時間就可以檢測出RoHS指令中的規(guī)定值為1,000ppm級的鉛含量，從而可以判斷整個實裝線路板中是否符合無鉛制程的規(guī)范。
　　此外，[SEA6000VX]還配備了決定測量位置觀測的高清晰度寬視野光學系統(tǒng)，以及高精度的X-Y平臺，進一步提高了操作的便利性及測量的穩(wěn)定性。
　　精工電子納米科技有限公司針對有害物質測量所開發(fā)生產的X射線熒光分析儀中，既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等，加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」，可廣泛對應不同的測量對象。
　　【SEA6000VX的主要特點】
　　1. 高速掃描測量
　　通過結合了大幅提高的微小區(qū)域X射線熒光分析靈敏度和高速電動平臺，能夠快速獲得二維掃描圖像。特別是強化了對線路板中鉛的掃描，配備了鉛掃描專用濾波器。讓1,000ppm以下無鉛焊錫中的鉛掃描變成簡單可行。
　　2. 寬視野高清晰度光學系統(tǒng) 
　　可獲得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光學影像。從該光學影像可以直接精確指定測量位置，讓操作性得到飛躍般的改善。此外，該光學影像可以和通過高速掃描獲得的掃描圖像進行重疊，可在大范圍內進行高精度分析。
　　3. 微小區(qū)域中微量金屬的高速測量 
　　實現了高密度微小X射線束以及配備的高計數率檢測器，加上充分考慮到X射線熒光檢測效率的設計，實現了高靈敏度化。微小區(qū)域中微量金屬或薄膜都可在短時間內測量。即使是1mm x 1mm左右的微小區(qū)域也可以以100秒左右的速度測量其中的有害物質。
　　4. 無需液氮的高計數率檢測器
　　作為標準配置本公司獨有的無需液氮的高計數率檢測器，省去了繁瑣的液氮補給程序。僅需數分鐘的開機時間，同時電子冷卻的規(guī)格具備了優(yōu)異的可信性。運用的技術可以減少在液氮制造、搬運時產生的二氧化碳，以及提高測量速度后節(jié)省下的電力等，是一款考慮到環(huán)保問題的先進儀器。
　　5. 微小區(qū)域的鍍層厚度測量
　　可在十秒左右的時間完成對0.2mm x 0.2mm面積中Au/Ni/Cu(金/鎳/銅)等薄膜多鍍層的鍍層厚度測量。此外，也可對無鉛焊錫鍍層或化學鎳鍍層中含有的微量鉛進行分析。